新型X熒光貴金屬分析儀EDX 3600繼承了準確、快速、無損、直觀及環保五大特點，采用25mm2大面積鈹窗探測器，可準確無誤地分析出黃金、鉑金、銀等飾品中金、銀、鉑、鈀、銠、銅、鐵、鎳、鋨、鋅、銥的含量，測試結果完全符合國標GB-1887《首飾貴金屬純度的規定及命名方法》和GB/T-18043《貴金屬首飾含量的無損檢測方法X射線熒光光譜法》的要求。 性能特點 三重安全保護模式 相互獨立的基體效應校正模型 多變量非線性回歸程序 任意多個可選擇的分析和識別模型 高信噪比的電子線路單元 全元素測試專用X熒光分析軟件 與傳統儀器相比，新增加的抽真空系統，屏蔽空氣的影響，大幅擴展測試的版圖 采用世界上最好的SDD硅漂移探測器，分辨率最低至139ev，更好的檢測鉑金中銥和金的含量 提供多種準直器，直徑最小達0.2mm，輕松實現精小部位的精確測試 精選全球優質組件組件 真空腔 在分析低含量的輕元素時，必須使用真空泵設備把空氣抽出，使內部在真空狀態下對輕元素進行分析。 真空泵（選配） 極限真空：6??10-2 帕轉速：1400 轉/分 抽率：1 升/秒 功率：0.25 千瓦 技術指標 測量元素范圍：從鈉（Na）至鈾（U） 測量對象狀態：粉末、固體、液體 同時分析元素：30種元素同時分析 元素含量分析范圍：1ppm-99.99% 能量分辨率為：140??5ev 分析精度：0.05%（96%）以上 測量時間：60s-200s（可調） 制冷方式：電制冷，無需任何耗材 環境溫度：10℃-30℃ 環境濕度：35%-70% 輸入電壓：AC 110V/220V 管壓：5kV-50kV 管流：50??A-1000??A 樣品腔尺寸：334??500??80mm 外觀尺寸：670??533??855 mm 重量：80kg 標準配置 美國Amptek原裝進口SDD探測器 數字多道分析器 放大電路、高低壓電源、高效X光管 計算機、打印機、真空泵（選配）、穩壓電源（選配） 軟件：貴金屬分析軟件（標配）、鍍層分析軟件（選配）、有害元素分析軟件（選配） 應用領域 黃金、鉑金、銀等貴金屬的成分檢測。可廣泛應用于珠寶首飾中輕元素的檢測。 分析元素:金、銀、鉑、鈀、銠、銅、鐵、鎳、鋨、鋅、銥、鈉、鎂、鋁、硅、磷、硫等。 聯系人 區經理 電話 13823581593 QQ 2868059266 地址 深圳市福田區八卦三路88號榮生大廈702室 固定電話：0755-25870896 網址 www.ges-tech.cn